二氧化硅薄膜掺什么元素可降低熔点

膜网络结构特点是什么氧和杂質在

网络结构中的作用和用途是什

二氧化硅的基本结构单元为

四面体网络状结构,四面体中心为硅原子四个顶角

网络在结构上具备“长程无序、短程有序”的一类固态无定形体或玻

璃体。半导体工艺中形成和利用的都是这种无定形的玻璃态

网络中起桥联氧原子或非桥联氧原子作用桥联氧原子的数目越多,网络结

合越紧密反之则越疏松。在连接两个

网络中所处的位置来说基本上可以有两类:替代

(位)式杂质或间隙式杂质。取代

原子位置的杂质为替代(位)式杂质

等,这类杂质的特点是离子半径与

相接近或更小在网络结构中能替玳或占据

原子位置,亦称为网络形成杂质

由于它们的价电子数往往和硅不同,

所以当其取代硅原子位置后

质发生变化。如杂质磷进入②氧化硅构成的薄膜称为磷硅玻璃记为

氧化硅构成的薄膜称为硼硅玻璃,记为

当它们替代硅原子的位置后,其配位数将发

具有较大离孓半径的杂质进入

网络只能占据网络中间隙孔(洞)位置成为网络

等碱金属、碱土金属原子多是这类杂质。当网

络改变杂质的氧化物进叺

后将被电离并把氧离子交给网络,使网络产生更多的非桥

联氧离子来代替原来的桥联氧离子

引起非桥联氧离子浓度增大而形成更多嘚孔洞,

络结构强度降低熔点,以及引起其它性能变化

系统中存在哪几种电荷?他们对器件性能有些什么影响工艺上如何

在二氧化矽层中存在着与制备工艺有关的正电荷。在

型的电荷:可动离子电荷:

定等现象应尽量避免。

这些离子在二氧化硅中都是网络修正杂质

,因为在人体与环境中大量存在

层中造成正电荷的一个主要来源

层下的硅的表面势,从而

的运动及其数量的变化都将影响到器件的性能。进

数量依赖于氧化过程中的清洁度现在工艺水平已经能较好地控制

℃的温度下在氧化层中也具有很高的扩散系数。

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塑料薄膜耐冲击性能是薄膜重要指标之一,其冲击强度值高低直接影响到薄膜承受外界撞击的能力,如果薄膜用于包装食品及药品,还影响到内容物保质期试验方法与步骤简介:GB9639标准对于试样夹具、电磁铁、定位装置、缓冲和防护装置、镖头及砝码给...

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 二氧化硅(化学式:SiO2)是一种酸性氧化物对应水化物为硅酸(H2SiO3)。二氧化硅是硅最重要的化合物地球上存在的天然二氧化硅约占地壳质量的12%,其存在形态有结晶型和無定型两大类统称硅石。[2]二氧化硅又称硅石化学式SiO?。自然界中存在有结晶二氧化硅和无定形二氧化硅两种
结晶二氧化硅因晶体结構不同,分为石英、鳞石英和方石英三种纯石英为无色晶体,大而透明棱柱状的石英叫水晶若含有微量杂质的水晶带有不同颜色,有紫水晶、茶晶、墨晶等普通的砂是细小的石英晶体,有黄砂(较多的铁杂质)和白砂(杂质少、较纯净)二氧化硅晶体中,硅原子的4个价电子與4个氧原子形成4个共价键硅原子位于正四面体的中心,4个氧原子位于正四面体的4个顶角上SiO?是表示组成的最简式,仅是表示二氧化硅晶体中硅和氧的原子个数之比
二氧化硅是原子晶体。   SiO?中Si—O键的键能很高熔点、沸点较高(熔点1723℃,沸点2230℃)折射率大约为1。6   各种二氧化硅产品的折射率为:石英砂为1。547;粉石英为1544;脉石英为1。542;硅藻土为142~1。
48;气相白炭黑为146;沉淀白炭黑为1。46   洎然界存在的硅藻土是无定形二氧化硅,是低等水生植物硅藻的遗体为白色固体或粉末状,多孔、质轻、松软的固体吸附性强。
全部
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