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历史上的今天
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blogTitle:'XRD常见问题',
blogAbstract:'做XRD有什么用途啊，能看出其纯度?还是能看出其中含有某种官能团？
X射线照射到物质上将产生散射。晶态物质对X射线产生的相干散射表现为衍射现象，即入射光束出射时光束没有被发散但方向被改变了而其波长保持不变的现象，这是晶态物质特有的现象。
绝大多数固态物质都是晶态或微晶态或准晶态物质，都能产生X射线衍射。晶体微观结构的特征是具有周期性的长程的有序结构。晶体的X射线衍射图是晶体微观结构立体场景的一种物理变换，包含了晶体结构的全部信息。用少量固体粉末或小块样品便可得到其X射线衍射图。
XRD（X射线衍射）是目前研究晶体结构(如原子或离子及其基团的种类和位置分布，晶胞形状和大小等)最有力的方法。',
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XRD数据Rietveld_精修与GSAS讲义.ppt 36页
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XRD数据Rietveld_精修与GSAS讲义
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··········
Is the compound known?Crystallographic Structure Databases ICSD
(Minerals and Inorganics) http://www.fiz-karlsruhe.de/ Minerals and Inorganic Over 60000 entries
Cambridge Structure Data Bank）
http://www.ccdc.cam.ac.uk Organics & Organometallics Over 250000 entries ICDD diffraction data http:/
Inorganic & Organic Over 140000 entries
NIST Crystal Data /srd/nist3.htm
Inorganic & Organic Over 230000 entries 278916
Patterns already! A new structural database (2003) aimed at freely retrieving data Profile Factor 越小越好 Weighted Profile Factor ～ 10 % Expected Weighted Profile Factor Goodness of fit indicator ～ 1 晶体结构精修结果正确性判据 晶体结构精修结果正确性判据 Bragg Factor Crystallographic RF factor Rietveld结构精修
根据初始的结构模型，计算出衍射图谱，通过与实验图谱进行全谱对比，进一步优化结构模型的方法。
结构精确的作用： Lattice Parameters
Quantitative phase Analysis Atomic Positions
Grain size，Strain Atomic Occupancy
Incommensurate Structure Debye Temperatures
Crystallinity Magnetic structures
Phase transitions Structure factors
…… History
Review Rietveld originally introduced the Profile Refinement method (Using step-scanned data rather than integrated Powder peak intensity) () Rietveld developed first computer Program for the analysis of neutron data for Fixed-wavelength diffractometers (1969) Malmos & Thomas first applied the Rietveld refinement method (RR) for analysis of x-ray powder data collected on a Ginier Hagg focusing Camera (1977) Khattack & Cox first applied the RR to x-ray powder data collected on a diffractometer (1977) Conference on Diffraction Profile Anlysis Sponsored by IUCr in Poland, suggested the term “Rietveld Method”(1978) Wiles and Yang developed a general computer program (D.B.W) for both x-ray & neutron diffraction data (fixed wavelength)(1981) Von Dreele, Jorgensen and Windsor extended to the program to the neutron diffraction data (1982) Fitch et al, 193 refined parameters,UO2 DAs.4D
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&&XRD Rietveld结构精修求助
XRD Rietveld结构精修求助
据说fullprof 或者GSAS等软件可以做XRD结构精修，就是确定晶体空间群，原子坐标和占有率什么的。但是我从没学过，没用过。求大师指导：哪个软件好用？怎么学习?急求。不然毕业不了咯
不认识这样的专业认识。请能推荐几个，万分感激
原子占位的信息不是XRD数据通过rietveld得到的吗？
关键就没人给演示。怎么办？求大神给视频。或者我可以去找你学习。可否，
可以通过精修得到原子占位信息，只是X射线定有些原子的占位时，不是特准确。
网上应该有关于这方面的帖子和视频吧！我也忙毕业了，论文没搞定了。可以给你些文献供参考。祝好！
请问您会用gsas吗？据说这个比fullprof简单？
GSAS不会。。。。
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(小有名气)
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XRD精修已有1人参与
请教一下大家关于XRD精修的问题，我现在做了一个有机晶体，做了粉末XRD衍射，但XRD精修方面遇到了困难，需要这方面的专家的指导
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如果只是测量晶格常数，可以不用结构精修，结构精修通常称为Rietveld结构精修，又称全谱峰拟和，需要步进扫描所获得的数字谱，是一个需要时间和经验的工作，初学者可能不一定能很快掌握。建议采用单峰扫描，获取样品所有衍射峰的精确位置，然后采用最小二乘法（也就是柯亨法）进行拟和，确定晶格常数。该法比较简单实用，不需要特殊的软件，测试精度可以满足要求，但单峰步进扫描时间也比较长。具体步骤可参考《材料分析测试技术-材料X射线衍射与电子显微分析》，周玉，武高辉编，哈工大出版社，2207年版。
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如果专家会的话，本人向您想学一下关于xrd精修
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引用回帖:: Originally posted by tsglss at
真心求你说的2207年版的（材料分析测试技术-材料X射线衍射与电子显微分析）下载地址？谢谢了
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